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Formation : Approfondissement en imagerie au MEB et en microanalyse X

Se former avec Cacemi

Cacemi

Renseignements :
Durée : 30 Heures
Type : En centre (inter)
Diplômant : Non
Prix H.T. € : 2075.00

Objectifs :
Préciser et approfondir les connaissances nécessaires à un travail efficace sur les appareils et à une interprétation correcte des résultats.
Etudier les divers phénomènes physiques rencontrés lors des interactions entre un faisceau électronique et la matrice afin que l'utilisateur d'un MEB puisse rechercher les conditions optimales d'observation de ses propres échantillons.
Apprendre la théorie et la pratique de la microanalyse X quantitative.
Donner quelques bases de la pratique de l'analyse d'images.
Maîtrise de la qualité de l'image et de l'analyse X.

Pour qui ?
Programme
Les dates

Public visé :
Ingénieurs, techniciens supérieurs et chercheurs. Métallurgistes, mécaniciens, chimistes (travaillant sur des matériaux tant métalliques que céramiques ou composites) et géologues.
Pré-requis :
Le suivi de ce stage suppose une expérience pratique professionnelle d'un minimum d'un an dans le domaine de l'observation des matériaux solides par microscopie électronique et l'acquis du niveau du stage ''Introduction à la microscopie électronique à balayage'' - EA01 .

Au cours d'une journée de démonstrations pratiques sur appareils, les divers modes d'imagerie et d'analyse seront présentés et discutés avec des opérateurs expérimentés.
Principes et techniques de l'imagerie au microscope électronique à balayage
Développements récents du microscope électronique à balayage
La microanalyse élémentaire par spectrométrie X à dispersion de longueur d'onde et à sélection d'énergie : aspects technologiques, traitement des données, pratique de l'analyse quantitative, programmes de correction
Analyse d'images : numérisation, traitements numériques et binaires, segmentations, mesures
La qualité au MEB et en microanalyse X
Travaux dirigés sur appareils : imagerie MEB, analyse X qualitative et quantitative, analyse d'images
Préparation des échantillons et artefacts
Introduction à l'EBSD
Critères de choix d'un MEB et d'un microanalyseur X
Table ronde et étude de cas

31/03/2008 au 04/04/2008 (75)

Recherches Associées

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