Kelformation - Formation : Méthodes avancées en diffraction X

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Méthodes avancées en diffraction X

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Durée : 5 Jours
Type : En centre

Diplôme : Autre
Prix : 1605.00 €

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Objectifs

A l\'issue du stage, les participants seront capables d\'utiliser des techniques d\'analyse par diffraction X utilisées dans l\'industrie et dans les laboratoires d\'appliquer ces techniques sur des cas pratiques, grâce aux exemples illustrés lors du stage

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Pour qui ?
Programme
Informations complémentaires
Dates / Lieux

Public visé :
Ingénieurs et techniciens des laboratoires industriels et universitaires ayant suivi le stage sur les méthodes d\'analyse des poudres par diffraction X. Pour les personnes intéressées uniquement par les analyses des surfaces, il est possible de suivre le stage plus spécifique intitulé \'\'Analyse de surface\'\'.

Programme :
Théorie : Principe et application de la diffraction X Identification de phases Analyse quantitative Introduction à l\'analyse cristallographique Tailles de cristallites et microdéformations Méthode de Rietveld Contraintes résiduelles Initiation à la détermination d\'orientations préférentielles (textures) Analyses de couches minces (X rasants, réflectométrie X) Applications : Différentes applications seront proposées aux stagiaires, comme par exemple Analyse quantitative sur ciment Mesure du taux d\'austénite résiduelle Mesure de contraintes résiduelles Mise en évidence de texture Mesure d\'épaisseurs par diffraction X - Caractérisation de couches nitrurées Analyse de couches minces en microélectronique et dans l\'industrie des verres

Informations complémentaires :
Méthodes pédagogiques Le stage comprendra des exposés théoriques suivis de travaux pratiques. Plusieurs diffractomètres automatisés seront mis à la disposition des stagiaires.