Formation : Méthodes avancées en diffraction X
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DEPULP
- Renseignements :
- Durée : 5 Jours
- Type : En centre (inter)
- Diplômant : Non
-
Prix H.T. € :1565.00
- Objectifs :
- A l'issue du stage, les participants seront capables
d'utiliser des techniques d'analyse par diffraction X utilisées dans l'industrie et dans les laboratoires
d'appliquer ces techniques sur des cas pratiques, grâce aux exemples illustrés lors du stage.
- Public visé :
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Ingénieurs et techniciens des laboratoires industriels et universitaires ayant suivi le stage sur les méthodes d'analyse des poudres par diffraction X.
Pour les personnes intéressées uniquement par les analyses des surfaces, il est possible de suivre le stage plus spécifique intitulé ''Analyse de surface''.
- Pré-requis :
- Cette formation fait suite au stage intitulé : ''Méthodes d'analyse des poudres par diffraction X''.
- Théorie
Principe et application de la diffraction X
Identification de phases
Analyse quantitative
Introduction à l'analyse cristallographique
Tailles de cristallites et microdéformations
Méthode de Rietveld
Contraintes résiduelles
Initiation à la détermination d'orientations préférentielles (textures)
Analyses de couches minces (X rasants, réflectométrie X)
Applications :
Différentes applications seront proposées aux stagiaires, comme par exemple
Analyse quantitative sur ciment
Mesure du taux d'austénite résiduelle
Mesure de contraintes résiduelles
Mise en évidence de texture
Mesure d'épaisseurs par diffraction X - Caractérisation de couches nitrurées
Analyse de couches minces en microélectronique et dans l'industrie des verres
- Méthodes pédagogiques
Le stage comprendra des exposés théoriques suivis de travaux pratiques. Plusieurs diffractomètres automatisés seront mis à la disposition des stagiaires.
ATTENTION Difficultés hôtelières à cette période. Réservez votre hébergement le plus tôt possible.
Nombre de stagiaires limité à 6.
Ce stage peut également être réalisé ''à la carte''
17/11/2008 au 21/11/2008 (67)
