Kelformation - Formation : Méthodes d'analyse par fluorescence X

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Méthodes d'analyse par fluorescence X

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Durée : 5 Jours
Type : En centre

Diplôme : Autre
Prix : 1605.00 €

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Objectifs

A l\'issue du stage, les participants seront capables : de mettre en pratique des connaissances théoriques et pratiques de base nécessaires à l\'analyse par fluorescence X de résoudre des problèmes analytiques rencontrés dans l\'industrie.

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Pour qui ?
Programme
Informations complémentaires
Dates / Lieux

Public visé :
Ingénieurs et techniciens des laboratoires industriels et des entreprises concernés par l\'analyse de matériaux.

Programme :
Théorie : Physique des rayons X. Etude des spectromètres à dispersion en longueur d\'onde (WDS) et à dispersion en énergie (EDS). Méthodes d\'analyse. Analyse qualitative et semi-quantitative. Introduction à l\'analyse quantitative. Effets de matrice. Applications : Etude des composants d\'un spectromètre. Choix des paramètres de mesure Analyse qualitative et quantitative. Méthodes de préparation des échantillons. Applications concrètes avec des échantillons de métallurgie, cimenterie, géologie.

Informations complémentaires :
Méthodes pédagogiques Le stage comprendra des exposés théoriques suivis de travaux pratiques. Différents appareils, (spectromètres séquentiels automatisés avec logiciel sur PC, et spectromètre à dispersion en énergie) seront mis à la disposition des stagiaires. Cette formation permettra de suivre un stage ultérieur sur l\'analyse quantitative par fluorescence X.

Session(s):

Date(s):	Lieu(x):
Du 06/10/2008 au 10/10/2008	(67) Bas-Rhin
Du 25/05/2009 au 29/05/2009	(67) Bas-Rhin
Du 05/10/2009 au 09/10/2009	(67) Bas-Rhin
Du 31/05/2010 au 04/06/2010	(67) Bas-Rhin