Formation : Méthodes d' analyse par fluorescence X
Se former avec
DEPULP
- Renseignements :
- Durée : 5 Jours
- Type : En centre
- Diplômant : Oui
-
Prix H.T. € :1520.00
- Objectifs :
- A l'issue du stage, les participants seront capables :
de mettre en pratique des connaissances théoriques et pratiques de base nécessaires à l'analyse par fluorescence X
de résoudre des problèmes analytiques rencontrés dans l'industrie
- Public visé :
-
Ingénieurs et techniciens des laboratoires industriels et des entreprises concernés par l'analyse de matériaux.
- Théorie
Physique des rayons X.
Etude des spectromètres à dispersion en longueur d'onde (WDS) et à dispersion en énergie (EDS).
Méthodes d'analyse.
Analyse qualitative et semi-quantitative.
Introduction à l'analyse quantitative.
Effets de matrice.
Applications
Etude des composants d'un spectromètre.
Choix des paramètres de mesure
Analyse qualitative et quantitative.
Méthodes de préparation des échantillons.
Applications concrètes avec des échantillons de métallurgie, cimenterie, géologie
- Méthodes pédagogiques
Le stage comprendra des exposés théoriques suivis de travaux pratiques. Différents appareils, (spectromètres séquentiels automatisés avec logiciel sur PC, et spectromètre à dispersion en énergie) seront mis à la disposition des stagiaires.
Cette formation permettra de suivre un stage ultérieur sur l'analyse quantitative par fluorescence X.
25/05/2009 au 29/05/2009 (67)
06/10/2008 au 10/10/2008 (67)
26/05/2008 au 30/05/2008 (67)
