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Formation : Pratique de la microanalyse élémentaire par spectrométrie X avec un détecteur à diode (EDS) associé

Se former avec Cacemi

Cacemi

Renseignements :
Durée : 18 Heures
Type : En centre (inter)
Diplômant : Non
Prix H.T. € : 945.00

Objectifs :
Acquérir une pratique raisonnée et méthodique de la microanalyse X élémentaire au spectromètre à diode associé au microscope électronique à balayage (MEB), appliquée principalement aux matériaux métalliques.
La formation vise à dégager les principes physiques et est ainsi transposable à l'utilisation d'autres modèles d'appareillage.

Pour qui ?
Programme
Les dates

Public visé :
Opérateurs débutants en microanalyse élémentaire, mais expérimentés en imagerie au MEB et possédant les connaissances physiques de la théorie élémentaire sur la microanalyse X.
Pré-requis :
Des connaissances au minimum équivalentes au stage Cacemi ''Introduction à la microscopie électronique à balayage (personnes débutantes)'' (EA01 ) sont nécessaires.

17 heures de travaux dirigés effectués sur un appareil Cambridge S 240 équipé d'un détecteur à diode Si(Li) et d'un système d'analyse et de traitement PGT ''SPIRIT''.
Chaque participant est à tour de rôle opérateur pour chacun des exercices proposés.
Analyse qualitative :
Préparation de l'échantillon, réglage du microscope, choix des paramètres d'acquisition du spectromètre, analyse et traitement du spectre.
Analyse quantitative :
Choix des conditions de mesures, aspects statistiques, méthodes de correction, analyse avec acquisition sur des témoins.
Cartographie élémentaire (''image X'') et profil d'analyse élémentaire.

26/03/2008 au 28/03/2008 (75)
23/09/2008 au 25/09/2008 (75)

Recherches Associées

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